Summary
The analysis of electroencephalograms and event-related potentials may be difficult
by the presence of eyelid and eye movement artifacts. In this paper a method is described,
which allows a relatively simple on-line correction of vertical ocular activity, measurable
by electooculogram, in several EEG channels. Eyelid and eye movement artifacts are
being manifest in a different extension at a different EEG recording position. Using
the electrooculogram, with the aid of a simple electronic device it is possible to
differ between eyelid and eye movement artifacts, which will be corrected selectively.
If only midline derivations are evaluated (Fz, Cz, Pz) the vertical EOG is sufficient
and horizontal EOG may be left out from the correcting procedure. The efficiency of
the procedure is proved by EEG and ERP records.
Zusammenfassung
Die Analyse von Elektroenzephalogrammen und ereignisbezogenen Potentialen kann durch
Lidschlag- und Augenbewegungsartefakten wesentlich erschwert werden. In diesem Artikel
wird ein on-line Verfahren beschrieben, das eine relativ einfache Korrektur der vertikalen
Augenaktivität, die mit Hilfe des Elektrookulogramms meßbar ist, an mehreren EEG-Ableitungen
erlaubt. Lidschlag- und Augenbewegungsartefakte manifestieren sich in unterschiedlicher
Ausprägung an einer jeweiligen EEG-Ableitposition.
Mit Hilfe einer einfachen elektronischen Schaltungsanordnung kann anhand der EOG-Aktivität
zwischen Lidschlag- und Augenbewegungsartefakten unterschieden werden, die dann selektiv
korrigiert werden können. Werden nur EEG-Ableitungen von der Mittellinie benutzt,
kann auf die Korrektur des horizontalen EOG verzichtet werden. Die Effizienz des Verfahrens
wird durch EEG-und ERP-Ableitbeispiele nachgewiesen.
Key words:
Electroencephalogram - Event-related potentials - Eyelid and eye movement artifacts
- On-line EOG correcting procedure
