Sweep-VEP: Eine neue Methode zur objektiven Visusprüfung bei Kleinkindern

Zusammenfassung

Zur Prüfung des Sehvermögens von Kleinkindern sind das Preferential Looking und Registrieren von visuell evozierten kortikalen Potentialen (VEP) gebräuchlich. Beide Methoden erfordern eine gute Kooperation des untersuchten Kindes, da die verschiedenen Muster während mehreren Minuten fixiert werden müssen. Im Gegensatz dazu dauert eine VEP-Messung mit der 1985 erstmals beschriebenen Sweep-Technik nur wenige Sekunden. Wie beim herkömmlichen Muster-VEP werden Filterung und Fourier-Datenanalyse durchgeführt. Die kurze Untersuchungsdauer gewährleistet eine in den meisten Fällen problemlose Aufmerksamkeitszuwendung und damit ein stabiles Fixierverhalten, auch bei Neugeborenen und Behinderten. In den bisherigen Untersuchungen fand sich zudem eine sehr gute Reproduzierbarkeit der Resultate. Anhand der Meßresultate von einem drei Monate alten Zwillingspaar werden die Methode und ihre Vorteile dargestellt.

Summary

For visual acuity testing in small children Preferential Looking and registration of Visually Evoked Potentials (VEP) are used clinically. Both methods are dependent on good cooperation, since the presented patterns have to be fixated during several minutes by the children tested. In contrast the sweep-technique, described in 1985 by Norcia, allows VEPs to be measured in only a few seconds. As in conventional VEP-testing filtering and Fourier data analysis are performed. The short examination time guarantees in most cases no problems in maintaining attention and stable fixation, even when newborns or handicapped are tested. In several studies good reliability has been demonstrated. As an illustration results of sweep-VEP-testing of three months old twins are shown.